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高溫高濕穩態試驗



穩態試驗(Steady-state Test)是藉由高溫、高濕的加速因子下,驗證評估非密封性包裝之電子零阻件中,封裝材質與內部線路對濕氣腐蝕抵抗的能力。而上板后與組件接合的位置(Solder Joint),會因溫度、濕度與外在偏壓(Bias),加速使金屬解離后,游離至另一極性(電子遷移,Migration),產生金屬沉積、形成Dendrite,導致短路進而影響壽命。
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